产品目录 | Product catalog

  • LYBR-VI阻抗变压器绕组变形分析仪

    阻抗变压器绕组变形分析仪

    LYBR-VI阻抗变压器绕组变形分析仪具有线性扫频测量和分段扫频测量双测量系统功能,兼容当前国内两种技术流派的测量模式,具有线性分度及对数分度两种,因此打印出的曲线可以是线性分度曲线也可以是对数分度曲线,用户可根据实际需要选用。

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  • LYBR-VI频响法及阻抗法绕组变形测试仪

    频响法及阻抗法绕组变形测试仪

    LYBR-VI频响法及阻抗法绕组变形测试仪设计制造完成后,其线圈和内部结构就确定下来,因此对一台多绕组的变压器线圈而言,如果电压等级相同、绕制方法相同,则每个线圈对应参数(Ci、Li)就应该是确定的。因此每个线圈的频域特征响应也随之确定,对应的三相线圈之间其频率图谱具有一定可比性。

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  • LYBR-VI阻抗法绕组变形二次测试仪

    阻抗法绕组变形二次测试仪

    LYBR-VI阻抗法绕组变形二次测试仪采集控制采用高速、高集成化微处理器。笔记本电脑与仪器之间通信USB接口。笔记本电脑与仪器之间通信无线蓝牙接口(选配件)。硬件机芯采用DDS数字高速扫频技术(美国),通过测试可以准确诊断出绕组发生扭曲、鼓包、移位、倾斜、匝间短路变形及相间接触短路等故障。

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  • LYBR-VI综合绕组变形校验装置

    综合绕组变形校验装置

    LYBR-VI综合绕组变形校验装置设计制造完成后,其线圈和内部结构就确定下来,因此对一台多绕组的变压器线圈而言,如果电压等级相同、绕制方法相同,则每个线圈对应参数(Ci、Li)就应该是确定的。因此每个线圈的频域特征响应也随之确定,对应的三相线圈之间其频率图谱具有一定可比性。

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  • LYBR-VI复合式变压器绕组变形测试仪

    复合式变压器绕组变形测试仪

    LYBR-VI复合式变压器绕组变形测试仪内部结构就确定下来,因此对一台多绕组的变压器线圈而言,如果电压等级相同、绕制方法相同,则每个线圈对应参数(Ci、Li)就应该是确定的。因此每个线圈的频域特征响应也随之确定,对应的三相线圈之间其频率图谱具有一定可比性。

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  • LYBR-VI综合绕组变形测试仪

    综合绕组变形测试仪

    LYBR-VI综合绕组变形测试仪内部结构就确定下来,因此对一台多绕组的变压器线圈而言,如果电压等级相同、绕制方法相同,则每个线圈对应参数(Ci、Li)就应该是确定的。因此每个线圈的频域特征响应也随之确定,对应的三相线圈之间其频率图谱具有一定可比性。

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  • LYBR-VI变压器绕组变形综合测试仪

    变压器绕组变形综合测试仪

    LYBR-VI变压器绕组变形综合测试仪内部结构就确定下来,因此对一台多绕组的变压器线圈而言,如果电压等级相同、绕制方法相同,则每个线圈对应参数(Ci、Li)就应该是确定的。因此每个线圈的频域特征响应也随之确定,对应的三相线圈之间其频率图谱具有一定可比性。

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  • LYBR-V变压器绕组变形分析仪

    变压器绕组变形分析仪

    LYBR-V变压器绕组变形分析仪内部结构就确定下来,因此对一台多绕组的变压器线圈而言,如果电压等级相同、绕制方法相同,则每个线圈对应参数(Ci、Li)就应该是确定的。因此每个线圈的频域特征响应也随之确定,对应的三相线圈之间其频率图谱具有一定可比性。

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  • LYBR-V频响法绕组变形测试仪

    频响法绕组变形测试仪

    LYBR-V频响法绕组变形测试仪内部绕组参数在不同频域的响应变化经量化处理后,根据其变化量值的大小、频响变化的幅度、区域和频响变化的趋势,来确定变压器内部绕组的变化程度,进而可以根据测量结果判断变压器是否已经受到严重破坏、是否需要进行大修。

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  • LYBR-V绕组变形二次测试仪

    绕组变形二次测试仪

    LYBR-V绕组变形二次测试仪具有线性扫频测量和分段扫频测量双测量系统功能,兼容当前国内两种技术流派的测量模式,幅频特性符合国家关于幅频特性测试仪的技术指标。横坐标(频率)具有线性分度及对数分度两种,因此打印出的曲线可以是线性分度曲线也可以是对数分度曲线,用户可根据实际需要选用。

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